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系列：X-200 特征：标准型 < 应用 > 半导体/微电子：晶圆台阶、刻蚀深度、薄膜厚度/均匀性、光刻胶厚度、应力与翘曲。 MEMS/微机电：微结构高度、沟槽深度、悬臂梁轮廓、表面粗糙度。光学/精密光学：透镜曲率、光学薄膜厚度、表面粗糙度、平面度。显示/LED：像素台阶、ITO/有机层厚度、发光层均匀性。太阳能/光伏：电极线高度/宽度、减反膜厚度、表面形貌。材料科学：涂层/镀层厚度、纳米材料形貌、生物材料表面特征。汽车/医疗：精密零件粗糙度、植入体表面、微流体通道表征。

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